KAPABILITAS PROSES TINJAUAN PUSTAKA A.

34

E. KAPABILITAS PROSES

Kapabilitas proses adalah ukuran statistik dari variasi inheren pada suatu peristiwa tertentu dalam proses yang stabil. Biasanya didefinisikan sebagai lebarnya proses variasi normal yang dibagi oleh enam sigma dan diukur dengan menggunakan indeks kapabilitas capability index, C p . Dengan kata lain, kapabilitas proses adalah kemampuankesanggupan proses untuk mencapai hasil tertentu Brue, 2002. Menurut Gaspersz 1998, kapabilitas proses adalah kemampuan suatu proses dalam menghasilkan produk yang memenuhi spesifikasi. Jika proses memiliki kapabilitas yang baik, proses akan menghasilkan produk yang berada dalam batas-batas spesifikasi. Sebaliknya, apabila proses memiliki kapabilitas yang tidak baik, proses itu akan menghasilkan banyak produk yang berada di luar batas spesifikasi sehingga menimbulkan kerugian. Apabila kapabilitas proses tidak dapat memenuhi spesifikasi yang diinginkan, perlu dibuat perubahan baik pada batas spesifikasi atau pada proses itu sendiri. Indeks kapabilitas proses C p dihitung dengan menggunakan rumus berikut: 2 d R s = s LSL USL C P 6 − = Keterangan: C p = Capability Index USL = Batas spesifikasi atas Upper spesification limit LSL = Batas spesifikasi bawah Lower spesification limit s = Simpangan baku d 2 = Koefisien untuk menduga simpangan baku yang besarnya tergantung dari ukuran subgrup Indeks C p memiliki dua kekurangan besar. Pertama, tidak dapat digunakan kecuali terdapat baik spesifikasi atas maupun bawah. Kedua, tidak menghitung data yang distribusinya tidak normal. Jika rata-rata proses tidak berada pada garis tengah pada persyaratan perekayasaan, indeks C p akan memberikan hasil yang menyesatkan. Dalam hal ini, indeks C p digantikan dengan C pk Pyzdek, 2002. Untuk parameter yang 35 hanya memiliki satu spesifikasi atas atau bawah maka yang dipakai adalah nilai C pu dan C pl , yang dihitung dengan menggunakan rumus berikut: s USL C pu 3 X − = s LSL C pl 3 X − = pl pu pk C C Min C , = Keterangan: C pu = Upper Capability Index C pl = Lower Capability Index C pk = Indeks Performansi Kane USL = Batas spesifikasi atas Upper spesification limit LSL = Batas spesifikasi bawah Lower spesification limit s = Simpangan baku X = Nilai Tengah rata-rata total

F. DIAGRAM SEBAB-AKIBAT DIAGRAM ISHIKAWA