Kekuatan Tarik Scanning Electron Microscope SEM

2.7.1 Kekuatan Tarik

Kekuatan tarik adalah salah satu sifat dasar dari bahan polimer yang terpenting dan sering digunakan untuk karakteristik suatu bahan polimer. Kekuatan tarik suatu bahan didefinisikan sebagai besarnya beban maksimum E maks yang digunakan untuk memutuskan spesimennya bahan dibagi dengan luas penampang awal A . σ = � ���� � � keterangan : σ = kekuatan tarik bahan kgf mm 2 F = tegangan maksimum kgf Ao = luas penampang mm 2 Spesimen yang digunakan untuk uji kekuatan tarik berdasarkan ASTM D 638 seperti terlihat pada gambar 2.6 rangkaian alat uji tarik diset sesuai denagn yang diperlukan. Kecepatan tarik 100 mmmenit dan beban maksimum 100 kg.f. sampel yang sudah berbentuk dumbell dijepitkan pada alat uji tarik, kemudian alat dijalankan dan data yang dihasilkan diamati pada monitor. Gambar 2.6 Bentuk Spesimen Untuk Analisis Kuat Tarik dan Kemuluran ASTM D- 638-72-Type IV. Disamping bersama kekuatan tarik σ sifat mekanik bahan juga diamati dari sifat kemulurannya ε yang didefenisikan sebagai : 110 mm 64 mm 6 mm 25,5 mm 19 mm 30 mm Universitas Sumatera Utara Universitas Sumatera Utara ε = I t − I I x 100 keterangan: ε = kemuluran I = panjang spesimen mula-mula mm I t = panjang spesimen setelah diberi beban mm Wirjosentono, 1996.

2.7.2 Scanning Electron Microscope SEM

Struktur permukaan suatu benda diuji dapat dipelajari dengan menggunakan scanning elektron mikroskop karena jauh lebih mudah untuk mempelajari struktur permukaan ini secara langsung. Dengan berkas sinar elektron difokuskan kesuatu titik dengan diameter sekitar 100 À dan digunakan untuk melihat permukaan dalam suatu layar. Elektron – elektron dari benda diuji difokuskan dengan suatu elektroda elektrostatik pada suatu alat pemantul yang dimiringkan. Sinar yang dihasilkan diteruskan melalui suatu pipa sinar pantulan kesuatu alat pembesar foto dan sinyal yang dapat digunakan untuk memodulasikan terangnya suatu titik osiloskop yang melalui suatu layar dengan adanya persesuaian dengan berkas sinar elektron pada permukaan benda uji. Karena elektron-elektron sekunder mempunyai energi yang rendah, maka elektron-elektron tersebut dapat dibelokkan membentuk sudut dan menimbulkan bayangan topografi. Intensitas dari hamburan balik elektron-elektron yang cenderung tertimbun karena dengan energinya yang lebih tinggi maka tidak mudah dikumpulkan oleh sistem kolektor normal seeperti yang digunakan pada elektron payaran.Jika elektron-elektron sekunder akan terkumpul, maka kisi didepan detektor akan mengalami kemiringan sekitar 200 V Smallman, 1991. Universitas Sumatera Utara Universitas Sumatera Utara BAB 3 METODE PENELITIAN

3.1 Alat-alat