pada saliva terjadi apabila pH saliva dibawah nilai 5 dan keefektifan pH dan sifat buffer saliva tergantung kepada kandungan bikarbonat pada saliva Cole, 1988; Van
Nieuw, 1991. Kelenjar saliva dapat mengalami disfungsi sehingga jumlah dan kualitas
saliva dapat berubah. Untuk menstimulasi fungsi kelenjar saliva digunakan saliva buatan. Saliva buatan menggantikan fungsi saliva asli dalam hal perlindungan,
perbaikan, pengucapan dan pengatur keseimbangan air. Selain memiliki manfaat seperti yang disebutkan di atas, saliva buatan juga digunakan pada uji laboratorium
yang membutuhkan kondisi kimia yang sama seperti saliva asli di dalam rongga mulut. Penggunaan saliva buatan untuk penelitian di bidang kedokteran gigi telah
ditemukan sejak tahun 1931, ketika Souder dan Sweeney meneliti tentang keracunan penggunaan restorasi amalgam. Saliva buatan mengandung komponen yang sama
dengan saliva asli, tetapi tidak mengandung enzim. Saliva buatan dapat dibuat dengan berbagai macam metode pencampuran komposisi. Salah satu metodenya adalah
dengan mencampurkan berbagai komposisi sebagai berikut NaCl, KCl,KSCN, KH2PO4, Urea, Na2SO4. 10H2O, NH4Cl, CaCl2. 2H2O, NaHCO3 Preetha, 2005
.
2.3 Alat Uji
2.3.1 Mikroskop mikrograf micrograph microscope
Mikroskop mikrograf merupakan fotograf atau gambaran digital yang diambil melalui mikoskop atau alat yang sama untuk menunjukkan pembesaran gambar.
Mikroskop ini menggunakan optik dan kamera charge-coupled device untuk
Universitas Sumatera Utara
menampilkan gambaran digital ke monitor. Mikroskop mikrograf biasanya memiliki pengukur mikron atau pembesaran. Pembesaran merupakan rasio antara ukuran objek
pada gambar dengan ukuran sebenarnya. Akan tetapi, pembesaran merupakan suatu parameter yang kurang dapat dipercaya. Untuk itu digunakan skala bar atau mikron
bar yang dapat menampilkan panjang objek sebenarnya pada gambar Wikipedia, 2012. Gambar 2.6 menunjukkan gambar mikroskop mikrograf Carl Zeiss
Microscopy, 2011.
Gambar 2.6 Mikroskop Mikrograf
2.3.2 Scanning electron microscope SEM
Scanning electron microscope SEM adalah jenis mikroskop elektron yang menggambarkan permukaan sampel dengan memindainya menggunakan pancaran
elektron berenergi tinggi yang membentuk pola pindaian. Elektron akan berinteraksi dengan atom pada sampel dan menghasilkan sinyal yang mengandung informasi
tentang topografi permukaan sampel, komposisi dan sifat lainnya seperti konduktifitas listrik. Spesimen yang akan digambar oleh SEM harus dapat
Universitas Sumatera Utara
mengalirkan listrik electrically conductive. Spesimen yang terbuat dari metal hanya memerlukan sedikit tindakan preparasi untuk digambar oleh SEM. Tetapi bagi
spesimen yang tidak dapat mengantarkan listrik harus dilapisi coating dengan suatu zat yang bersifat sebagai konduktor. Pelapis yang biasa digunakan adalah emas, aloi
emaspaladium, platinum, osmium, iridium,tungsten,chromium dan graphite Lawes, 1987; REM, 2010.
Pembesaran pada SEM dapat dikendalikan mulai dari 10 sampai 500.000 kali. SEM memiliki kondenser dan lensa objektif yang berfungsi memfokuskan sinar
kepada suatu tempat dan bukan menggambar keseluruhan spesimen Lawes, 1987. Jenis sinyal yang dihasilkan oleh SEM mencakup elektron sekunder
secondary electrons, elektron yang memencar back-scattered electrons BSE, sinar X, cahaya cathodoluminescence, elektron pada spesimen dan elektron yang
ditransmisikan. Sinyal dihasilkan dari interaksi benturan elektron dengan atom pada atau didekat permukaan sampel. SEM dapat menghasilkan gambaran permukaan
sampel dengan resolusi yang sangat tinggi dan dapat mengungkapkan detail berukuran kurang dari 1 nm. Gambaran sampel diambil captured secara digital dan
akan ditampilkan pada layar monitor dan disimpan di dalam komputer. Pada Gambar 2.7 ditampilkan skema cara kerja SEM.
Universitas Sumatera Utara
Gambar 2.7 Cara Kerja SEM
REM Purdue University, 2010
Sinar elektron dihasilkan pada bagian atas mikroskop oleh electron gun. Elektron akan mengikuti jalur vertikal melalui mikroskop, yang tetap dalam keadaan
vakum. Sinar melewati area elektromagnetik dan lensa, yang memfokuskan sinar turun ke arah sampel. Ketika sinar mengenai sampel, elektron dan sinar x akan
dikeluarkan dari sampel. Detektor akan mengumpulkan sinar x, backscattered electron, dan elektron sekunder. Detektor akan merubahnya menjadi sinyal yang
menghasilkan gambaran dan selanjutnya ditampilkan pada layar monitor Lawes, 1987; REM Purdue University, 2010.
Universitas Sumatera Utara
2.3.3 Energy dispersive x-ray EDX
