100 x
M M
M WA
k k
j
− =
dahulu kekerasannya. Silika ini paling sering ditemukan di alam sebagai pasir atau kuarsa, serta di dinding sel diatom.
2.5 Karakterisasi Aspal Modifier
Karakteristik dari aspal modifier yang diukur meliputi Analisa Sifat Ketahanan Terhadap Air dengan Uji Serapan Air Water Absorption Test mengacu pada ASTM C 20-00-
2005, Analisa Sifat Mekanik dengan Uji Kuat Tekan Compressive Strengh Test mengacu pada ASTM D 1559-76, analisa Sifat Morfologi dengan Uji Scanning Electron
Microscopy SEM, analisa Sifat Thermal dengan Uji Differential Scanning Calorimeter DSC, analisa Gugus Fungsi dengan Fourier Transform Infrared Spectroscopy FTIR,
analisa Kristalinitas dengan X-Ray Diffraction XRD.
2.5.1 Analisa Sifat Ketahanan Terhadap Air dengan Uji Serapan Air Water
Absorption Test
Untuk mengetahui besarnya penyerapan air oleh aspal modifier, dihitung dengan menggunakan persamaan 2.1 sebagai berikut :
.................................................................. 2.1
Dengan : WA
= Penyerapan air M
k
= Massa sampel kering M
j
= Massa jenuh air
2.5.2 Analisa Sifat Mekanik dengan Uji Kuat Tekan Compressive Strengh Test
Universitas Sumatera Utara
A F
P =
Pemeriksaan uji kuat tekan dilakukan untuk mengetahui secara pasti akan kekuatan tekan yang sebenarnya apakah sesuai dengan yang direncanakan atau tidak. Pada mesin uji
kuat tekan benda diletakkan dan diberikan beban sampai benda runtuh, yaitu pada saat beban maksimum bekerja seperti gambar dibawah ini :
Gambar 2.4 Kuat Tekan
Pengukuran kuat tekan compressive strength aspal modifier dapat dihitung dengan menggunakan persamaan sebagai berikut :
............................................................................ 2.2
Dengan : P
= Kuat tekan, Nm
2
F = gaya maksimum dari mesin tekan, N
A = Luas penampang yang diberi tekanan, m
2
Butarbutar, 2009.
2.5.3 Analisa Sifat Morfologi dengan Uji
Scanning Electron Microscopy- Energy Dispersive Spectroscopy SEM-EDS
SEM adalah alat yang dapat membentuk bayangan permukaan spesimen secara makroskopik. Berkas elektron dengan diameter 5-10 nm diarahkan pada spesimen.
Interaksi berkas elektron dengan spesimen menghasilkan beberapa fenomena yaitu hamburan balik berkas elektron, sinar X, elektron sekunder dan absorpsi elektron.
Teknik SEM pada hakekatnya merupakan pemeriksaan dan analisa permukaan. Data atau tampilan yang diperoleh adalah data dari permukaan atau dari lapisan yang
tebalnya sekitar 20 µm dari permukaan. Gambar permukaan yang diperoleh merupakan
Universitas Sumatera Utara
tofografi dengan segala tonjolan, lekukan dan lubang pada permukaan. Gambar tofografi diperoleh dari penangkapan elektron sekunder yang dipancarkan oleh spesimen. Sinyal
elektron sekunder yang dihasilkan ditangkap oleh detektor yang diteruskan ke monitor. Pada monitor akan diperoleh gambar yang khas menggambarkan struktur permukaan
spesimen. Selanjutnya gambar di monitor dapat dipotret dengan menggunakan film hitam putih atau dapat pula direkam ke dalam suatu disket.
Sampel yang dianalisa dengan teknik ini harus mempunyai permukaan dengan konduktivitas tinggi. Karena polimer mempunyai kondiktivitas rendah maka bahan perlu
dilapisi dengan bahan konduktor bahan pengantar yang tipis. Bahan yang biasa digunakan adalah perak, tetapi juga dianalisa dalam waktu yang lama, lebih baik
digunakan emas atas campuran emas dan palladium Rusdi Rafli, 2008.
2.5.4 Analisa Sifat Termal dengan Uji
