Analisis Bilangan Resistansi Sensor Analisis Bilangan Konduktivitas Sensor Analisis Gugus Kimia Aktif Analisis Morfofogi Permukaan SEM Analisa XRD X-Ray Diffraction

26

3.5 PROSEDUR ANALISA

3.5.1 Analisis Bilangan Resistansi Sensor

1. Dimasukkan Minyak goreng sebanyak 50 ml kedalam Erlenmeyer. 2. Kemudian sensor yang telah dihubungkan ke multimeter di masukkan ke dalam Erlenmeyer yang berisi minyak sampai membasahi seluruh permukaan sensor. 3. Tutup Erlenmeyer, lalu di ukur nilai resistansi pada alat multimeter. 4. Dicatat hasil yang diperoleh.

3.5.2 Analisis Bilangan Konduktivitas Sensor

Langsung dari prosedur analisa bilangan resistansi sensor yaitu menghubungkan dengan ASTM D257, dimana rumusnya : [3.1] Dimana: σ = Nilai konduktivitas sensor T = Ketebalan dari PVC sensor R = Nilai resistansi sensor A = Luas permukaan sensor

3.5.3 Analisis Gugus Kimia Aktif

Berdasarkan ASTM E 1252 – 982013 C1 Standard Practice for General Thecniques for Obtaining Infrared Spectra for Qualitative Analysis : 1. Sensor dimasukkan ke dalam alat FT-IR 2. Dihitung panjang gelombang dengan menggunakan alat FT-IR tersebut 3. Resolusi spektrum yang dipilih dan jangkauan pemindaian adalah 4 cm -1 dan 600-4000 cm -1 . 4. Dicatat hail yang diperoleh

3.5.4 Analisis Morfofogi Permukaan SEM

Morfologi permukaan polianilinaserbuk ban diteliti dengan menggunakan mikroskop elektron scanning Model Joel JSM 6460LA-. Sebelum pemeriksaan SEM, sampel yang dipasang di alas aluminium dan dibiarkan dalam tutup sputtering yaitu, sebuah lapisan Paladium tipis 20 nm yang tidak rata dilapisi pada Universitas Sumatera Utara 27 permukaan sampel untuk menghindari listrik yang dibebankan selama pemeriksaan. Dicatat hasil yang diperoleh.

3.5.5 Analisa XRD X-Ray Diffraction

Pengujian XRD pada sensor konduktif polimer dilakukan menggunakan XRD 6000 jenis Shimadzu pada voltase 35 kV, 25 mA, dan radiasi Cu Cu = 1.54 nm. Pancaran sinar dijalankan dalam rentang 10 – 80 2θ. Analisa ini dilakukan pada suhu kamar mengunakan kecepatan sinar pada 5 o Cmenit. Hukum Bragg’s yang pertama kali digunakan untuk menentukan interfrensi sinar –X melalui kristal dan mengkaji struktur bahan yang berbeda-beda. Apabila panjang gelombang yang digunakan adalah sebanding dengan ruang antara molekul bahan yang dianalisa, dimana d adalah jarak antara atom, n adalah tingkat refleksi, λ adalah panjang gelombang dari radiasi, dan θ adalah sudut yang terbentuk Nilai d dapat dihitung dengan menggunakan rumus dari Hukum Bagg’s: n×λ = 2 d sin θ atau d = [3.2] Dimana : d = jarak antara atom n = tingkat refleksi λ = panjang gelombang dari radiasi 1,54 Ǻ θ = sudut yang terbentuk

3.5.6 Analisa Ketahanan Bahan Kimia Sensor