perbedaan temperatur diantara sampel dengan suatu bahan pembanding yang stabil terhadap perubahan panas.
Analisis thermal differensial adalah suatu cara untuk menentukan perubahan sifat- sifat khusus panas dari suatu bahan sampel dengan mengukur dan mencatat kedua-duanya,
temperatur T
o
C diantara suatu sampel yang diukur dan satu bahan pembanding yang panasnya stabil seperti alpha alumina Afriando , 2009 .
Pada Analisa Differensial Termal, sampel dan suatu zat inert, yang tidak mengalami transisi termal pada suhu yang diharapkan yang telah ditentukan, dipanaskan pada konsisi
yang sama. Perbedaan temperatur akhir dari sampel dan bahan pembanding akan diplotkan pada suatu grafik yang berguna untuk mengetahui dari temperatur dari sampel Billmeyer,
1984.
Gambar 2.4 Grafik b hasil dari set up yang diperlihatkan pada gambar a, Grafik d merupakan jejak DTA yang umum yang merupakan hasil
dari pengaturan yang diperlihatkan pada gambar c.
2.8.2 Spektrofotometer FT-IR
Sistem analisa spektroskopi infra merah IR telah memberikan keunggulan dalam mengkarakterisasi senyawa organik dan formulasi material polimer. Analisa infra merah IR
Universitas Sumatera Utara
akan menentukan gugus fungsi dari molekul yang memberikan regangan pada daerah serapan infra merah. Tahap awal identifikasi bahan polimer, maka harus diketahui pita serapan yang
karakteristik untuk masing-masing polimer dengan membandingkan spektrum yang telah dikenal. Pita serapan yang khas ditunjukan oleh monomer penyusun material dan struktur
molekulnya Hummel, 1985 .
2.8.3. Analisa Sifat Permukaan dengan Pengujian Scanning Electron Microscopy
SEM
SEM adalah alat yang dapat membentuk bayangan permukaan spesimen secara makroskopik. Berkas elektron dengan diameter 5-10 nm diarahkan pada spesimen. Interaksi
berkas elektron dengan spesimen menghasilkan beberapa fenomena yaitu hamburan balik berkas elektron, sinar X, elektron sekunder dan absorpsi elektron.
Teknik SEM pada hakekatnya merupakan pemeriksaan dan analisa permukaan. Data atau tampilan yang diperoleh adalah data dari permukaan atau dari lapisan yang tebalnya
sekitar 20 μm dari permukaan. Gambar permukaan yang diperoleh merupakan tofografi
dengan segala tonjolan, lekukan dan lubang pada permukaan. Gambar tofografi diperoleh dari penangkapan elektron sekunder yang dipancarkan oleh spesimen. Sinyal elektron
sekunder yang dihasilkan ditangkap oleh detektor yang diteruskan ke monitor. Pada monitor akan diperoleh gambar yang khas menggambarkan struktur permukaan spesimen.
Selanjutnya gambar di monitor dapat dipotret dengan menggunakan film hitam putih atau dapat pula direkam ke dalam suatu disket.
Sampel yang dianalisa dengan teknik ini harus mempunyai permukaan dengan konduktivitas tinggi. Karena polimer mempunyai kondiktivitas rendah maka bahan perlu
dilapisi dengan bahan konduktor bahan pengantar yang tipis. Bahan yang biasa digunakan adalah perak, tetapi juga dianalisa dalam waktu yang lama, lebih baik digunakan emas atas
campuran emas dan palladium Rusdi Rafli, 2008.
2.8.4 Analisa Sifat Mekanik dengan Uji Kekuatan Tarik dan Kemuluran
