Berdasarkan ASTM D-412, bentuk spesimen dumbel dibutuhkan untuk uji kekuatan komposit. Detail bentuk ditunjukkan gambar berikut :
Gambar 2.18. Spesimen uji berdasarkan ASTM D-412
2.9.7. Uji Perpanjangan Putus Elongation Break
Ini merupakan total perpanjangan pada potongan uji pada waktu ketika mengalami perputusan. Ini diukur oleh penambahan dalam jarak antara dua garis
yang ditempatkan dalam potongan uji sebelum proses pemotongan dimulai Nicholas P., 1962.
Perpanjangan putus = −
× 100 ......................................2.9.6 Dimana : d = Panjang saat putus mm
a = Panjang mula-mula mm Soseno, 1977
2.9.8. Uji Modulus Young
Uji Modulus Young diperoleh berdasarkan pengukuran yang sebanding antara tegangan tarik dan perpanjangan. Walaupun bentuk pengukuran diambil pada
waktu bagian uji putus, dimana nilai modulus adalah kekuatan yang digunakan oleh sebuah sampel yang diberikan persen perpanjangan Nicholas P., 1962.
Modulus Young =
�
……………………………………………......
2.9.7
Universitas Sumatera Utara
2.9.9. Uji Ketahanan Sobek Tear Resistance
Ketahanan sobek merupakan ketahanan yang diberikan oleh suatu bagian percobaan karet terhadap pengoyakkan setelah dipotong menurut cara tertentu
Yayasan Karet, 1983. Uji ini penting untuk beberapa produk misalnya, untuk tapak, pipa, sarung kabel, kaus kaki dan lain-lain. Hal yang paling diamati dari
ketahanan sobek didapat dari hasil yang diperoleh pada bagian dari karet dan sobekan oleh tangan. Ketahanan sobek bergantung pada lebar dan ketebalan dari
potongan uji dan hasil uji menunjukkan beban yang umum untuk menyobek sebuah spesimen dengan lebar dan tebal yang standard.
Kekuatan Sobek = L � t
t ……………………………………2.9.8
Dimana : L = Kekuatan maksimum yang digunakan t
1
= Ketebalan standard dari potongan yang diuji 2,5 mm t
2
= Ketebalan dari spesimen uji Marthan, 1998.
2.9.10. Analisa Scanning Electron Microscopy SEM
SEM menggunakan prinsip scanning yaitu berkas elektron diarahkan pada titik permukaan spesimen. Gerakan elektron diarahkan pada titik permukaan spesimen.
Jika seberkas sinar elektron ditembakkan pada permukaan spesimen maka sebagian dari elektron itu akan dipantulkan kembali dan sebagian lagi diteruskan.
Jika permukaan spesimen tidak merata, banyak lekukan, lipatan atau lubang- lubang. Maka tiap bagian permukaan itu akan memantulakan elektron dengan
jumlah dan arah yang berbeda dan kemudian akan ditangkap oleh detektor dan akan diteruskan ke sistem layar. Dalam Penelitian morfologi permukaan dengan
menggunakan SEM pemakaiannya terbatas, tetapi memberikan informasi yang bermanfaat mengenai topologi permukaan dengan resolusi berkisar 1000 Å.
Stevens, 2001.
Universitas Sumatera Utara
2.9.11. Analisa Termal Thermogravimetry Analysis TGA
