Scanning Electron Microscope SEM. X-Ray Diffractometry XRD.

Gambar 3.17. Peralatan DSC Hasil pengujian DSC merupakan kurva termogram yang dapat digunakan untuk menentukan suhu transisi glass dan Temperatur lebur Tm .

3.6.3. Scanning Electron Microscope SEM.

Scanning Electron Microscope menggunakan metode Secondary Electron Image SEI. SEM digunakan untuk mengkarakterisasi morfologi permukaan, topografi, dan struktur mikro sampel. Alat buatan zeiss ini menghasilkan foto polaroid dan mampu memfoto dengan perbesaran dari 35 x sampai 10000x dilengkapi dengan sistim EDX. Sampel yang difoto sebaiknya berukuran kecil, tidak lebih dari 5 mm x 5 mm untuk luas permukaan dan sampel dalam keadaan kering. Gambar 3.18 memperlihatkan gambar SEM model Zeiss dan Model Joel Gambar 3.18 . Peralatan Scanning Electron Microscope . Universitas Sumatera Utara

3.6.4 X-Ray Diffractometry XRD.

Teknik ini digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam material dengan cara menentukan parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel.Karakterisasi X-Ray diffractometry X-RD,yang digunakan dalam temperature ruang dengan mengunakan alat Shimadzu XRD 600 X-ray diffractometer 40 kV, 30 mA dengan mengunakan nikel untuk menyaring radiasi Cu K α dimana laju scanning yang digunakan adalah dari 2 menit pada range 2 θ = 5 -75 untuk nano partikel zeolit alam kalsinasi dan tanpa kalsinasi , sedangkan untuk sampel termoplastik elastomer nano komposit menggunakan X-ray diffractometer type PW 1710 Base dengan generator tegangan 40 kV, dan generator current 25mA sudut pencacahan 2θ mulai dari 5 sampai 65 , Peralatan XRD diperlihatkan pada Gambar 3.19 . Gambar 3 .19. Peralatan XRD Tiap puncak yang muncul pada pola XRD mewakili satu bidang kristal yang memiliki orientasi tertentu dalam sumbu tiga dimensi. Puncak-puncak yang didapatkan dari data pengukuran. 1. Posisi puncak difraksi memberikan gambaran tentang parameter kisi a, jarak antar bidang d hkl, struktur kristal dan orientasi dari sel satuan d hkl struktur kristal dan orientasi dari sel satuan. 2. Intensitas relatif puncak difraksi memberikan gambaran tentang posisi atom dalam sel satuan. 3. Bentuk puncak difraksi memberikan gambaran tentang ukuran kristalit dan Ketidak sempurnaan kisi. dhkl dikelompokkan dalam beberapa grup, dengan intensitas relative paling tinggi pertama disebut d 1 , kedua d 2 , ketiga d 3 dan seterusnya. Universitas Sumatera Utara

BAB 4 HASIL DAN PEMBAHASAN