2.7.4. Karakterisasi dengan Scanning Elektron Microscopy SEM.
SEM merupakan pencitraan material dengan mengunakan prinsip mikroskopi, mirip dengan mikroskop optik, namun alih-alih menggunakan
cahaya, SEM menggunakan elektron sebagai sumber pencitraan dan medan elektromagnetik sebagai lensanya. Elektron diemisikan dari katoda elektron gun
melalui efek foto listrik dan dipercepat menuju anoda. Filamen yang digunakan biasanya adalah tungsten atau lanthanum hexaboride LaB. Scanning coil, akan
mendefleksikan berkas electron menjadi sekumpulan array berkas yang lebih kecil, disebut scanning beam dan lensa obyektif magnetik akan
memfokuskannya pada permukaan sampel,Gambar 2,36 memperlihatkan diagram SEM . Cheremisinoff, N.P. © 1996 .
Gambar 2.36 . Diagram Scanning Electron Microscope SEM.
Elektron kehilangan energi pada saat tumbukan dengan atom material, akibat scattering dan absorpsi pada daerah interaksi dengan kedalaman 100 nm sampai 2
µm. Ini membuat material akan meradiasikan emisi meliputi sinar-x, back- scattered electron dan secondary electron. Pada SEM, sinyal yang diolah
merupakan hasil deteksi dari secondary electron yang merupakan elektron yang berpindah dari permukaan sampel. SEM dipakai untuk mengetahui struktur mikro
suatu material meliputi tekstur, morfologi, komposisi dan informasi kristalografi permukaan partikel. Morfologi yang diamati oleh SEM berupa; bentuk, ukuran
dan susunan partikel. EDX Energy Dispersive X-Ray, merupakan karakterisasi material menggunakan sinar-x yang diemisikan ketika material mengalami
tumbukan dengan elektron. Sinar-x di emisikan dari transisi elektron dari lapisan kulit atom, karena itu tingkat energinya tergantung dari tingkatan energi kulit
Universitas Sumatera Utara
atom. Setiap elemen di dalam tabel periodik atom memiliki susunan elektronik yang unik, sehingga akan memancarkan sinar-x yang unik pula. Dengan
mendeteksi tingkat energi yang dipancarkan dari sinar-x dan intenisitasnya, maka dapat diketahui atom-atom penyusun material dan persentase massanya. Gambar
2.37 menunjukan berkas elektron yang dideteksi oleh SEM
Gambar 2.37. Berkas elektron yang dideteksi SEM.
Universitas Sumatera Utara
BAB 3 . METODE PENELITIAN
3.1.Tempat Penelitian
Pada proses penelitian, pembuatan sampel dan pengujian dilakukan di Laboratorium Fisika FMIPA UNIMED Medan , Laboratorium Material lanjut dan
Nanoteknologi Pusat Penelitian Fisika LIPI PUSPITEK Serpong, Laboratorium Sentra Teknologi Polimer LIPI PUSPITEK Serpong, BATAN Serpong
,Laboratorium Fisika Polimer LIPI Bandung , PT.Santos Rubber Jakarta , PT Vanida Utama Pantai Idah Kapuk Jakarta, Laboratorium Teknik Geologi ITB
Bandung
3.2. Alat Dan Bahan. Alat.
Alat-alat yang digunakan dalam karakterisasi dan pembuatan sampel uji antara lain :
1. Two –Roll Mill for rubber tipe XK – 400 spesifikasi ; control Speed 900
rpm,motor 55 Kw; diameter roll 16 inc buatan China 2.
Internal Mixer Labo Plastomill Model 30 R150 Volume chember 60 cc atau 70 dari volume sekitar 50 mg
3. Hidraulic Hot press alat tekan Panas ,Hidraulic cold press 37 ton
Genno Japan 4.
Ball mill ,HEM –E3D, Planetary Ballmil PBM-4. Spesifikasi PBM-4 : 5.
Scaning Electron Microscopy SEM, Model Zeiss dan JEOL. 6.
X-Ray Difraction XRD ,Philips Analitycal PW 1710 Based 7.
Analisa termal STA TGA-DTA SETARAM TAG24 8.
DSC Mettler Teledo type 821 9.
Furnece 1300 10.
XRF X-Ray Fluorescence Spectrometer, Rigaku ZSX 11.
PSA Partikel Size Analizer ,DELSA
tm
12. Rheometer , ALPHA ODR 2000 Mansanto ,USA
Nano Series Zeta potensial
13. Mixer dan stirrer magnetic
14. Universal Testing Machanic model Laryee Universal Testing Mechine
Wdw-10 .
Universitas Sumatera Utara
Kategori