Scanning Electron Microscope SEM X-Ray Fluorosence XRF

2.10.5 Scanning Electron Microscope SEM

Berbicara tentang teknologi nano, maka tidak akan bisa lepas dari mikroskop, yaitu alat pembesar untuk melihat struktur benda kecil tersebut. Teknologi nano: teknologi yang berbasis pada struktur benda berukuran nanometer, satu nanometer = sepermiliar meter. Tentu yang dimaksud disini bukanlah mikroskop biasa, tetapi mikroskop yang mempunyai tingkat ketelitian resolusi tinggi untuk melihat struktur berukuran nanometer. Oleh sebab itu maka dibutuhkan SEM Scanning Electron Microscope untuk morfologi dari sampel. Fungsi mikroskop elektron scanning atau SEM adalah dengan membuat terfokus balok halus elektron ke sampel. Elektron berinteraksi dengan sampel komposisi molekul. Energi dari elektron menuju ke sampel secara langsung dalam proporsi jenis interaksi elektron yang dihasilkan dari sampel. Serangkaian energi elektron terukur dapat dihasilkan yang dianalisis oleh sebuah mikroprosesor yang canggih yang menciptakan gambar tiga dimensi atau spektrum elemen yang unik yang ada dalam sampel dianalisis. Ini adalah rangkaian elektron yang dibelokkan oleh tumbukan dengan elektron yang dihamburkan oleh sampel Reimer, L, 2000.

2.10.6 X-Ray Fluorosence XRF

X-Ray Fluorosence merupakan pengujian yang tidak merusak. XRF berfungsi untuk mengganalisa komposisi kimia yang terkandung dalam suatu sampel dengan menggunakan metode stoikiometri. XRF pada umumnya digunakan untuk menganalisis mineral dan bebatuan. Analisis digunakan secara kualitatif maupun kuantitatif. Analisis kualitatif dilakukan untuk menganalisis jenis unsur yang terkandung dalam bahan dan analisis kuantitatif dilakukan untuk menentukan konsentrasi unsur dalam bahan. Secara garis besar, prinsip kerja XRF adalah elektron pada kulit bagian dalam sampel akan dieksitasi oleh foton bagian dari sinar-X. Selama proses dieksitasi proton akan berpindah dari tingkat energi yang lebih tinggi untuk mengisi kekosongan elektron. Energi yang dipancarkan oleh kulit yang berbeda akan muncul sebagai sinar-X yang diemisikan oleh atom. Spektrum sinar-X yang Universitas Sumatera Utara diperoleh selama proses diatas menyatakan jumlah dari karakteristik puncak. Energi puncak untuk mengidentifikasi unsur dalam sampel analisis kualitatif, sementara intensitas puncak menyediakan konsentrasi unsur yang relevan dan mutlak analisis kuantitatif dan semi kuantitatif. XRF terdiri dari sumber radiasi primer biasanya radioisotop atau tabung sinar-X dan peralatan untuk mendeteksi sinar-X sekunder. XRF mempunyai keunggulan analisis yang cepat dan tidak memerlukan preparasi yang rumit. Waktu yang digunakan untuk sekali pengujian adalah 300 detik 5 menit. Sedangkan preparasi sampel tidak perlu dilakukan dengan merusak, sehingga sampel dapat segera diukur Beckhoff, B et.al, 2007.

2.10.7 Permagraph