perbedaan nilai P berdasarkan nilai a
w
dari a
w
meter dengan nilai a
w
berdasarkan model. Penentuan nilai a
w
dengan a
w
meter sangat tergantung dari
sensitivitas alat yang digunakan. Alat a
w
meter yang digunakan kurang sensitif
untuk mengukur golongan produk pangan kering dengan nilai a
w
yang rendah dibawah a
w
0.3. Selain itu, kesalahan penggunaan garam pengkalibrasi juga dapat mempengaruhi nilai a
w
produk yang terukur. Kesalahan dalam penentuan nilai aktivitas air dapat menyebabkan kesalahan penentuan umur
simpan dengan model kadar air kritis termodifikasi. Laju difusi uap air dari lingkungan ke wafer baik wafer A dan wafer B
tertinggi akan terjadi apabila wafer tersebut disimpan pada tempat yang memiliki RH 90 sedangkan RH 70 merupakan kelembaban relatif yang
cocok untuk memperpanjang umur simpan wafer karena laju difusi uap air akan berlangsung lambat. Menurut Kusnandar 2006, semakin kecil
perbedaan tekanan luar dan tekanan dalam kemasan maka perpindahan air semakin lambat, sehingga umur simpan produk akan lebih lama. Rekapitulasi
nilai P dapat dilihat pada Lampiran 19.
G. ANALISIS UMUR SIMPAN WAFER
1. PERBANDINGAN MODEL PENDEKATAN UMUR SIMPAN
Secara umum, umur simpan wafer ditetapkan berdasarkan waktu pada saat kadar air wafer sama dengan kadar air kritisnya. Wafer akan
menyerap uap air dari lingkungan sampai tercapai batas kritisnya sehingga kerenyahan wafer ditolak oleh konsumen. Pendekatan kadar air kritis ini
sangat cocok untuk menentukan umur simpan produk pangan yang sensitif terhadap perubahan kadar airnya. Dalam pendekatan tersebut terdapat dua
model penentuan umur simpan, yaitu model kurva sorpsi isotermis dan model kadar air kritis termodifikasi. Penentuan umur simpan dengan
model kurva sorpsi isotermis memerlukan biaya yang tinggi dan waktu analisis yang lama. Oleh karena itu, digunakan model lain yaitu model
kadar air kritis termodifikasi. Model ini sering digunakan untuk menentukan umur simpan produk pangan yang mengandung sukrosa
tinggi. Produk pangan ini tidak mempunyai kurva sorpsi isotermis yang baik sehingga digantikan dengan nilai P yaitu perbedaan tekanan di
dalam dan di luar kemasan. Model ini memerlukan waktu analisis yang singkat dan biaya yang lebih murah namun untuk produk kering belum
diketahui ketepatannya. Pada penelitian ini, umur simpan wafer akan ditentukan pada RH
70, 75, 80, dan 90 untuk menggambarkan kondisi penyimpanan wafer oleh konsumen. Umur simpan wafer A dan wafer B berdasarkan uji
hedonik dengan model kurva sorpsi isotermis dan model kadar air kritis
termodifikasi dapat dilihat pada Tabel 16 dan 17. Perhitungan umur simpan wafer dengan uji hedonik dapat dilihat pada Lampiran 20.
Tabel 16. Umur simpan wafer A berdasarkan model kurva sorpsi isotermis dan model kadar air kritis termodifikasi berdasarkan uji hedonik
Umur Simpan hari Slope b1
Slope b2 Slope b3
Termodifikasi RH
Penyimpan -an
Kemas- an asli
PP tebal
Kemas- an asli
PP tebal
Kemas- an asli
PP tebal
Kemas- an asli
PP tebal
70 325
36 407
46 880
99 425
48 75
218 24
272 31
588 66
382 43
80 143
16 178
20 386
43 347
39 90
48 5
60 7
129 14
293 33
umur simpan tersisa dari wafer A adalah 318 hari dengan berat solid per kemasan 25 g dan luas 0.0150 m
2
Tabel 17. Umur simpan wafer B berdasarkan model kurva sorpsi isotermis dan model kadar air kritis termodifikasi berdasarkan uji hedonik
Umur Simpan hari Slope b1
Slope b2 Slope b3
Termodifikasi RH
Penyimpan -an
Kemas- an asli
PP tebal
Kemas- an asli
PP tebal
Kemas- an asli
PP tebal
Kemas- an asli
PP tebal
70 398
28 576
41 1283
91 575
41 75
269 19
390 28
868 61
523 37
80 177
13 257
18 572
40 480
34 90
58 4
84 6
188 13
412 29
umur simpan tersisa dari wafer B adalah 373 hari dengan berat solid per kemasan 25 g dan luas 0.0150 m
2
Hasil penelitian menunjukkan kecenderungan semakin meningkatnya RH tempat penyimpanan, umur simpan wafer baik wafer A dan wafer B
menjadi semakin menurun. Hal ini disebabkan semakin tinggi RH penyimpanan maka perbedaan tekanan antara di dalam kemasan dan di
luar kemasan akan semakin besar. Menurut Kusnandar 2006, laju difusi uap air dari lingkungan ke produk pangan akan meningkat sebanding
dengan semakin besarnya perbedaan tekanan udara di luar dan di dalam kemasan. Berdasarkan penelitian, kondisi yang ideal untuk penyimpanan
wafer adalah RH 70 karena wafer akan memiliki umur simpan yang lebih panjang.
Perbedaan umur simpan antara wafer A dan wafer B disebabkan oleh perbedaan faktor pendukung masing-masing produk yaitu permeabilitas
kemasan asli wafer, luas kemasan, dan berat solid per kemasan wafer. Wafer yang dikemas ulang dengan plastik PP tebal mempunyai umur
simpan yang lebih singkat daripada wafer yang disimpan pada kemasan asli. Hal ini disebabkan plastik PP tebal memiliki nilai permeabilitas lebih
tinggi daripada kemasan asli wafer baik wafer A dan wafer B. Umur simpan wafer A dan wafer B yang dikemas ulang dengan plastik PP tebal
relatif sama. Hal ini membuktikan bahwa dari segi karakteristik produk, wafer A dan wafer B sama sehingga perbedaan porositas antara wafer A
dan wafer B tidak mempengaruhi umur simpan produk. Umur simpan wafer dengan model kurva sorpsi isotermis cenderung
sama dengan model kadar air kritis termodifikasi pada RH 70-80. Pada RH 70-75, umur simpan wafer dengan model kurva sorpsi isotermis
dengan slope b2 memiliki nilai yang sama dengan model kadar air kritis termodifikasi. Sedangkan pada RH 80, umur simpan wafer dengan
model kurva sorpsi isotermis dengan slope b3 memiliki umur simpan yang sama dengan model kadar air kritis termodifikasi. Perbedaan nilai slope
yang digunakan terhadap RH penyimpanan dikarenakan pada slope b2 pada kurva sorpsi isotermis hanya menjangkau daerah linier antara RH 30-
50 tetapi masih dapat menjangkau nilai RH 70-75 sedangkan RH 80 berada di daerah linier b3. Namun slope b3 tidak menjangkau daerah kadar
air awal dan kadar air kritis wafer sehingga tidak sesuai untuk menentukan umur simpan wafer. Pada model kadar air kritis termodifikasi tidak
dipengaruhi nilai slope karena tidak memiliki kurva sorpsi isotermis yang bisa dianggap linier. Model ini hanya memperhatikan nilai perbedaan
tekanan di dalam dan di luar kemasan P untuk menggambarkan pola difusi uap air dari lingkungan ke produk. Nilai P ini sangat ditentukan
oleh nilai a
w
wafer sehingga pengukuran a
w
wafer harus lebih terkontrol. Hasil umur simpan tersebut sesuai dengan umur simpan aktual yang
ditentukan secara konvensional oleh industri pangan yang memproduksi wafer A dan wafer B. Hal ini dapat dilihat dari umur simpan aktual wafer
yang tersisa masih mencakup umur simpan wafer hasil penelitian. Tanggal kadaluarsa ditentukan berdasarkan reduksi umur simpan wafer yang telah
ditentukan untuk melindungi konsumen dari pengkonsumsian produk yang telah rusak.
Berdasarkan hasil penentuan umur simpan tersebut, umur simpan wafer dapat ditentukan dengan model kadar air kritis termodifikasi dengan
RH tempat penyimpanan 70-80. Pada RH 90, hasil umur simpan dengan kurva sorpsi isotermis tidak dapat dibandingkan dengan model
kadar air kritis termodifikasi. Hal ini dikarenakan, kurva sorpsi isotermis ditentukan berdasarkan model Hasley yang cocok untuk produk dengan
range RH 10-81.
2. PERBANDINGAN UMUR SIMPAN WAFER MENGGUNAKAN
