wafer A memiliki kerenyahan awal yang lebih rendah daripada wafer B. Berdasarkan penelitian, pola penurunan kerenyahan wafer A dan wafer B
relatif sama.
Gambar 15. Penurunan kerenyahan wafer selama penyimpanan relatif terhadap nilai kerenyahan awal wafer
2. PERBANDINGAN
TEKSTUR SECARA
OBYEKTIF DAN
SUBYEKTIF
Secara organoleptik,
penurunan kerenyahan
wafer dapat
diidentifikasi, baik dengan uji hedonik maupun uji rating. Seperti yang
terlihat pada Gambar 16 dan 17, skor organoleptik konsumen akan
menurun sebanding dengan penurunan kerenyahan wafer. Hal ini menunjukkan adanya korelasi yang cukup baik antara penurunan
kerenyahan dengan skor oganoleptik baik hedonik maupun rating yang dapat dilihat dari nilai R
2
yaitu lebih dari 80.
100 85
82 69
59 44
100 82
64 58
53 42
20 40
60 80
100 120
1 2
4 6
8
Lama penyimpanan jam K
e r
e n
y a
h a
n
Wafer A Wafer B
Hedonik
y = 36.325x + 140.96 R
2
= 0.8148 y = 51.064x + 177.86
R
2
= 0.9472
0.00 100.00
200.00 300.00
400.00 500.00
600.00
0.00 2.00
4.00 6.00
8.00
Skor kesukaan K
e r
e n
y a
h a
n g
f
Wafer A Wafer B
Linear Wafer A Linear Wafer B
Rating
y = 35.093x + 146.85 R
2
= 0.8286 y = 50.343x + 182.31
R
2
= 0.9529
0.00 100.00
200.00 300.00
400.00 500.00
600.00
0.00 2.00
4.00 6.00
8.00
Skor rating K
e r
e n
y a
h a
n g
f
Wafer A Wafer B
Linear Waf er A Linear Wafer B
Hedonik
y = 10.578x + 41.05 R
2
= 0.8148 y = 10.151x + 35.358
R
2
= 0.9472
20 40
60 80
100 120
0.00 2.00
4.00 6.00
8.00
Skor kesukaan K
e r
e n
y a
h a
n
Wafer A Wafer B
Linear Wafer A Linear Wafer B
Rating
y = 10.219x + 42.764 R
2
= 0.8286 y = 10.008x + 36.241
R
2
= 0.9529
20 40
60 80
100 120
0.00 2.00
4.00 6.00
8.00
Skor rating K
e r
e n
y a
h a
n
Wafer A Wafer B
Linear Wafer A Linear Wafer B
a b
Gambar 16. Kurva hubungan antara skor organoleptik dengan kerenyahan wafer A dan wafer B a Uji Hedonik b Uji Rating
a b
Gambar 17. Kurva hubungan antara skor organoleptik dengan kerenyahan wafer A dan wafer B a Uji Hedonik b Uji
Rating
Berdasarkan hubungan antara skor organoleptik dengan penurunan kerenyahan wafer maka dapat ditentukan titik kritis dari tekstur wafer.
Titik kritis tersebut adalah titik dimana kerenyahan wafer tidak dapat diterima lagi secara organoleptik. Dua tipe kurva hubungan antara skor
subyektif dan skor obyektif yang digunakan menghasilkan titik kritis yang hampir sama. Namun, dalam penelitian ini digunakan hubungan antara
skor subyektif dengan nilai kerenyahan gf. Titik kritis wafer dapat dilihat
pada Tabel 6. Jika menggunakan hubungan antara skor organoleptik
y = -0.0003x + 0.1239 R
2
= 0.918 y = -0.0001x + 0.0776
R
2
= 0.8675
0.0000 0.0200
0.0400 0.0600
0.0800 0.1000
0.00 100.00
200.00 300.00
400.00 500.00
600.00
Kerenyahan gf K
a d
a r
a ir
g H
2 O
g s
o li
d
Wafer A Wafer B
Linear Wafer A Linear Wafer B
dengan kerenyahan wafer, titik kritis wafer tercapai saat kerenyahan wafer berada antara 65-75 dari kerenyahan awal wafer.
Tabel 6. Titik kritis wafer berdasarkan uji organoleptik
Nilai Kerenyahan gf Uji
Organoleptik Wafer A
Wafer B
Hedonik 249.94
331.05 Rating
252.13 333.34
merupakan hasil perhitungan dari persamaan yang terbentuk dari kurva hubungan skor organoleptik dengan nilai kerenyahan gf
Kadar air kritis yang telah ditentukan sebelumnya juga dapat digunakan untuk menentukan titik kritis kerenyahan wafer dengan
menggunakan kurva hubungan antara nilai kerenyahan gf dengan kadar
air wafer seperti yang terlihat pada Gambar 18. Hal ini untuk membandingkan titik kritis yang telah ditentukan sebelumnya Tabel 6.
Gambar 18. Kurva hubungan antara nilai kerenyahan gf dengan kadar air wafer selama penyimpanan
Titik kritis yang dihasilkan berdasarkan kadar air kritis wafer menunjukkan hasil yang relatif mendekati titik kritis yang ditentukan
dengan skor organoleptik. Oleh karena itu, kadar air kritis dapat ditentukan dengan cara selain dengan uji organoleptik yaitu dengan mengetahui titik
kritis atau kerenyahan kritis wafer secara obyektif. Apabila kerenyahan wafer sudah mendekati titik kritis tersebut maka wafer dapat dikatakan
sudah mencapai kadar air kritisnya. Titik kritis wafer berdasarkan kadar air
kritisnya dapat dilihat pada Tabel 7.
Tabel 7. Titik kritis wafer berdasarkan kadar air kritis wafer
Wafer A Wafer B
Uji Organoleptik
M
c
Titik Kritis gf
M
c
Titik Kritis gf
Hedonik 0.0466
257.71 0.0412
364.15 Rating
0.0457 260.77
0.0409 366.50
M
c
= kadar air kritis wafer g H
2
Og solid nilai tersebut berdasarkan kadar air kritis wafer
Titik kritis wafer A lebih rendah daripada titik kritis wafer B. Perbedaan titik kritis yang tercapai antara wafer A dan wafer B disebabkan
perbedaan struktur wafer. Struktur wafer A lebih porus daripada wafer B sehingga penyerapan uap air wafer A lebih cepat dan banyak uap air yang
terserap daripada wafer B. Akibat perbedaan kecepatan difusi uap air ini pada waktu yang sama untuk mencapai batas kritisnya, titik kritis atau
kerenyahan kritis wafer A lebih rendah daripada wafer B. Uji rating lebih tepat digunakan karena lebih spesifik pada parameter
yang diujikan kepada panelis daripada uji hedonik. Pada uji hedonik, hasil penilaiannya dapat dipengaruhi oleh parameter lain misalnya rasa,
sehingga kurang spesifik. Selain itu, panelis yang digunakan untuk uji rating
lebih sedikit daripada dengan uji hedonik. Titik kritis secara obyektif juga dapat dicoba untuk menentukan kadar air kritis wafer untuk
menggantikan penentuan kadar air kritis secara subyektif sehingga biaya organoleptik dan waktu analisis dapat dikurangi.
D. VARIABEL PENDUKUNG UMUR SIMPAN WAER
