dipengaruhi nilai slope karena tidak memiliki kurva sorpsi isotermis yang bisa dianggap linier. Model ini hanya memperhatikan nilai perbedaan
tekanan di dalam dan di luar kemasan P untuk menggambarkan pola difusi uap air dari lingkungan ke produk. Nilai P ini sangat ditentukan
oleh nilai a
w
wafer sehingga pengukuran a
w
wafer harus lebih terkontrol. Hasil umur simpan tersebut sesuai dengan umur simpan aktual yang
ditentukan secara konvensional oleh industri pangan yang memproduksi wafer A dan wafer B. Hal ini dapat dilihat dari umur simpan aktual wafer
yang tersisa masih mencakup umur simpan wafer hasil penelitian. Tanggal kadaluarsa ditentukan berdasarkan reduksi umur simpan wafer yang telah
ditentukan untuk melindungi konsumen dari pengkonsumsian produk yang telah rusak.
Berdasarkan hasil penentuan umur simpan tersebut, umur simpan wafer dapat ditentukan dengan model kadar air kritis termodifikasi dengan
RH tempat penyimpanan 70-80. Pada RH 90, hasil umur simpan dengan kurva sorpsi isotermis tidak dapat dibandingkan dengan model
kadar air kritis termodifikasi. Hal ini dikarenakan, kurva sorpsi isotermis ditentukan berdasarkan model Hasley yang cocok untuk produk dengan
range RH 10-81.
2. PERBANDINGAN UMUR SIMPAN WAFER MENGGUNAKAN
PERBEDAAN NILAI M
C
Kadar air kritis M
c
dalam penelitian ini ditentukan dengan menggunakan uji organoleptik yaitu uji hedonik dan uji rating terhadap
kerenyahan wafer. Oleh karena itu, terdapat dua kadar air kritis untuk masing-masing wafer yang berasal dari dua uji organoleptik yang
digunakan. Perbandingan kadar air kritis wafer berdasarkan uji
organoleptik dapat dilihat pada Tabel 18. Kadar air kritis sangat
mempengaruhi umur simpan wafer sehingga dengan kadar air kritis dari masing-masing uji organoleptik akan menghasilkan umur simpan dari uji
organoleptik tersebut. Umur simpan wafer berdasarkan uji hedonik dapat
dilihat pada Tabel 16 dan 17 sedangkan dengan uji rating dapat dilihat pada Tabel 19 dan 20.
Tabel 18. Kadar air kritis wafer berdasarkan uji organoleptik
Kadar air kritis g H2Og solid Uji organoleptik
Wafer A Wafer B
Uji hedonik 0.0466
0.0412 Uji rating
0.0457 0.0410
Tabel 19. Umur simpan wafer A berdasarkan model kurva sorpsi isotermis dan model kadar air kritis termodifikasi berdasarkan uji rating
Umur Simpan hari Slope b1
Slope b2 Slope b3
Termodifikasi RH
Penyimpan -an
Kemas- an asli
PP tebal
Kemas- an asli
PP tebal
Kemas- an asli
PP tebal
Kemas- an asli
PP tebal
70 398
28 569
40 1267
89 569
40 75
269 19
385 27
858 61
518 37
80 177
13 254
18 565
40 475
34 90
58 4
84 6
186 13
407 29
umur simpan tersisa dari wafer A adalah 318 hari dengan berat solid per kemasan 25 g dan luas 0.0150 m
2
Tabel 20. Umur simpan wafer B berdasarkan model kurva sorpsi isotermis dan model kadar air kritis termodifikasi berdasarkan uji rating
Umur Simpan hari Slope b1
Slope b2 Slope b3
Termodifikasi RH
Penyimpan -an
Kemas- an asli
PP tebal
Kemas- an asli
PP tebal
Kemas- an asli
PP tebal
Kemas- an asli
PP tebal
70 393
28 571
40 1272
90 571
40 75
266 19
387 27
861 61
520 37
80 175
12 255
18 567
40 477
34 90
58 4
84 6
187 13
409 29
umur simpan tersisa dari wafer B adalah 373 hari dengan berat solid per kemasan 25 g dan luas 0.0150 m
2
Berdasarkan hasil perhitungan, umur simpan wafer berdasarkan uji hedonik tidak berbeda jauh dengan umur simpan wafer yang ditentukan
dengan uji rating. Hal ini dikarenakan kadar air kritis wafer dari dua uji organoleptik tersebut tidak berbeda jauh. Oleh karena itu, uji rating dapat
digunakan untuk menentukan kadar air kritis wafer menggantikan uji hedonik. Penggunaan uji rating dalam penentuan kadar air kritis hanya
membutuhkan panelis terbatas sehingga biaya untuk analisis dapat dikurangi. Selain itu, uji rating lebih spesifik pada parameter yang
diujikan daripada dengan uji hedonik. Perhitungan umur simpan wafer
dengan menggunakan uji rating dapat dilihat pada Lampiran 21.
V. KESIMPULAN DAN SARAN
A. KESIMPULAN
Wafer termasuk dalam jenis biskuit yang memiliki rasa dan tekstur kerenyahan sebagai mutu utamanya. Selama penyimpanan, wafer akan
mengalami proses penurunan mutu. Penurunan mutu wafer yang mudah teridentifikasi pertama kali secara organoleptik oleh konsumen adalah
penurunan tekstur wafer daripada bau tengik akibat reaksi oksidasi lemak. Penurunan tekstur wafer ini dikarenakan wafer menyerap uap air dari
lingkungan sehingga kadar air wafer meningkat sampai konsumen tidak dapat menerima wafer secara organoleptik. Batas kritis tersebut ditetapkan sebagai
kadar air kritis wafer. Wafer A lebih cepat mengalami penurunan tekstur daripada wafer B yang disebabkan wafer A lebih porus daripada wafer B.
Berdasarkan penelitian ini, uji rating dapat digunakan menggantikan uji hedonik untuk menentukan kadar air kritis wafer. Selain itu, uji obyektif
kerenyahan kritis juga dapat digunakan untuk menentukan kadar air kritis wafer. Hal ini didukung dengan hasil penelitian bahwa terdapat korelasi yang
baik antara uji subyektif dan uji obyektif. Dengan metode penentuan kadar air kritis yang lebih sederhana tetapi tepat dan tidak membutuhkan banyak panelis
maka biaya analisis dapat dikurangi. Umur simpan wafer dengan menggunakan model kurva sorpsi isotermis
cenderung sama dengan umur simpan wafer dengan menggunakan model kadar air kritis termodifikasi pada RH di bawah 80. Hasil tersebut
didapatkan setelah adanya koreksi pada nilai a
w
awal wafer dan penentuan nilai slope kurva sorpsi isotermis yang tepat digunakan. Kedua variabel
tersebut merupakan faktor penting dalam kedua model yang digunakan. Nilai a
w
awal wafer ini digunakan pada model kadar air kritis termodifikasi untuk menentukan nilai P. Koreksi a
w
awal wafer dilakukan dengan menggunakan model persamaan Hasley karena sensitivitas a
w
meter rendah untuk produk
kering dan permasalahan kalibrasi alat. Nilai slope yang digunakan berasal dari slope kurva sorpsi isotermis model Hasley yang mencakup kadar air awal
dan kadar air kritis wafer yaitu terbentuk pada nilai RH 30-50. Namun, RH
