V. KESIMPULAN DAN SARAN
A. KESIMPULAN
Wafer termasuk dalam jenis biskuit yang memiliki rasa dan tekstur kerenyahan sebagai mutu utamanya. Selama penyimpanan, wafer akan
mengalami proses penurunan mutu. Penurunan mutu wafer yang mudah teridentifikasi pertama kali secara organoleptik oleh konsumen adalah
penurunan tekstur wafer daripada bau tengik akibat reaksi oksidasi lemak. Penurunan tekstur wafer ini dikarenakan wafer menyerap uap air dari
lingkungan sehingga kadar air wafer meningkat sampai konsumen tidak dapat menerima wafer secara organoleptik. Batas kritis tersebut ditetapkan sebagai
kadar air kritis wafer. Wafer A lebih cepat mengalami penurunan tekstur daripada wafer B yang disebabkan wafer A lebih porus daripada wafer B.
Berdasarkan penelitian ini, uji rating dapat digunakan menggantikan uji hedonik untuk menentukan kadar air kritis wafer. Selain itu, uji obyektif
kerenyahan kritis juga dapat digunakan untuk menentukan kadar air kritis wafer. Hal ini didukung dengan hasil penelitian bahwa terdapat korelasi yang
baik antara uji subyektif dan uji obyektif. Dengan metode penentuan kadar air kritis yang lebih sederhana tetapi tepat dan tidak membutuhkan banyak panelis
maka biaya analisis dapat dikurangi. Umur simpan wafer dengan menggunakan model kurva sorpsi isotermis
cenderung sama dengan umur simpan wafer dengan menggunakan model kadar air kritis termodifikasi pada RH di bawah 80. Hasil tersebut
didapatkan setelah adanya koreksi pada nilai a
w
awal wafer dan penentuan nilai slope kurva sorpsi isotermis yang tepat digunakan. Kedua variabel
tersebut merupakan faktor penting dalam kedua model yang digunakan. Nilai a
w
awal wafer ini digunakan pada model kadar air kritis termodifikasi untuk menentukan nilai P. Koreksi a
w
awal wafer dilakukan dengan menggunakan model persamaan Hasley karena sensitivitas a
w
meter rendah untuk produk
kering dan permasalahan kalibrasi alat. Nilai slope yang digunakan berasal dari slope kurva sorpsi isotermis model Hasley yang mencakup kadar air awal
dan kadar air kritis wafer yaitu terbentuk pada nilai RH 30-50. Namun, RH
di bawah 80 masih dapat mencakup slope pada range RH 30-50 sehingga umur simpan wafer dengan model kurva sorpsi isotermis cenderung sama
dengan model kadar air kritis termodifikasi. Pada RH di atas 80, umur simpan wafer dengan model kurva sorpsi isotermis tidak sama dengan model
kadar air kritis termodifikasi. Hal ini dikarenakan pada model kurva sorpsi isotermis yang digunakan adalah model Hasley yang hanya mencakup untuk
produk dengan RH 10-81. Oleh karena itu, model kadar air kritis termodifikasi dapat digunakan untuk menentukan umur simpan wafer dengan
keterbatasan RH yaitu antara 70-80. Hal ini sesuai untuk kondisi penyimpanan produk pangan kering yaitu di bawah 80.
Faktor di luar produk yang dapat mempengaruhi umur simpan produk wafer adalah permeabilitas kemasan, luas kemasan, dan berat solid produk per
kemasan. Perbedaan umur simpan wafer A dan wafer B dikarenakan oleh perbedaan faktor-faktor tersebut. Berdasarkan hasil penelitian, umur simpan
wafer A dan wafer B relatif sama. Hal ini menunjukkan bahwa perbedaan porositas produk tidak mempengaruhi umur simpan produk. Selain itu, umur
simpan yang ditentukan dengan menggunakan uji hedonik relatif sama dengan umur simpan wafer berdasarkan uji rating. Oleh karena itu, model kadar air
kritis termodifikasi dengan menggunakan uji rating dan uji obyektif dalam penentuan kadar air kritis wafer dapat digunakan untuk menentukan umur
simpan semua jenis flat wafer yang ada di pasaran.
B. SARAN
Kategori