Prosiding Seminar Radar Nasional 2008., Jakarta, 30 April 2008., ISSN : 1979-2921.
Gambar 1. Tata Letak Komponen dalam Phase Shifter Control Card
Gambar 2, memperlihatkan diagram kotak fungsional phase shifter control card yang terdiri atas
bagian input, memori, blok yang dikendalikan dan bagian output. Bagian input menerima data dari
peralatan lain. Memori berisi data untuk cara pengendalian kerja blok, yaitu blok A dan F, Blok C,
Blok D, E dan F. Sistem output yang digunakan mengendalikan sistem lain.
Gambar 2. Diagram Kotak Phase Shifter Control Card
. Bagian memori berisi data yang menentukan
urutan operasi blok A, B, C, D, E dan F, karean masing-masing blok ini bekerja secara ON dan OFF
dan bergantian.. Gambar 3 merupakan gambar rangkaian dari blok
C, sedang gambar 4 dipasang di halaman terakhir memperlihatkan gambar blok A dan B.
Gambar 3. Gambar Rangkaian Blok C
Pada blokC ini terdapat 6 buah transistor yang beroperasi sebagai saklar. Op-amp yang berjumlah
tiga juga berfungsi sebagai komparator. Sehingga pada prinsipnya sistem blok C ini merupakan sistem
elektronis yang bekerja secara digital. Demikian juga sistem yang berada di blok A, B,C,D, dan F. Berbagai
nilai tegangan diperlukan oleh blok–blok ini yaitu tegangan 1 Volt, 2,8 Volt, -3 Volt, 5 Volt dan 115
Volt.
38
Gambar 5. Rangkaian Bagian ROM
ROM berupa memori dengan 1024 lokasi yang masing-masing memuat data 4 bit. Keluaran 4 bit
digunakan untuk mengendalikan blok A sd F.melewat sebiah flip-flop. Blok A dan B bergantian ON dan
OFF, demikian juga blok E dan F. Sedang blok C dan D merupakan blok tak saling bergantian.
3. HASIL DAN PEMBAHASAN SISTEM TEST
BENCH
Test Bench merupakan gabungan perangkat lunak dan perangkat keras yang digunakan untuk
mengadakan uji kartu phase shift secara otomatis. Test bench dibuat dengan tujuan mempermudah seorang
teknisi untuk mengidentifikasi bagian yang rusak dari phase shifter control card. Sistem test bench
digambarkan dalam diagram kotak pada gambar 6.
Gambar 6. Diagram Kotak Sistem Perangkat Keras Test
Bench
Sitsem mikroprosesor sebagai alat uji, yang memberi masukan pada sistem dan menguji hasilnya
melalui IO digital. Untuk pengujian tegangan pada transistor disediakan 8 probe analog, sehingga setiap
saat dapat menguji 8 titik uji sekaligus. Disediakan ADC 8 bit untuk mengubah sinyal-sinyal analog ini
menjadi digital. Di dalam mikrokontroler telah dibuatkan tabel pembanding yang valid. Setiap data
pembacaan akan dibandingkan derngan isi tabel yang sesuai. Ketidak-cocokan antara hasil dan tabel,
mengindikasikan kemungkian adanya kegagalan fungsi komponen elekronis teruji. Penentuan
kerusakan yang pasti masih perlu bantuan teknisi. Program dalam komputer ditulis dalam bahasa
Delphi. Fungí komputer adalah memberi perintah mikroprosesor untuk mulai mengadakan pengujian
dan kemudian mengirimkan data hasil pengujian untuk ditampilkan di monitor.
Gambar 7. Diagram Alir Pengujian Otomatis
Gambar 8. Diagram Alir Uji Transistor
Tampilan hasil di monitor dapat dilihat di gambar 9, 10 dan 11. Gambar 9 menampilkan hasil pengujian
secara otomatis. Pengujian ini dimaksudkan untuk memberi informasi apakah sistem kartu dalam
keadaan baik atau perlu perbaikan. Bila terjadi kegagalan operasi, akan ditunjukkan bagian blok yang
gagal beroperasi. Gambar 10 menampilkan hasil pengujian IC input. Indikasi adanya kegagalan operasi
ditunjukkan dengan perubahan warna dalam tampilan. Gambar 11 menampilkan data hasil pengukuran
tegangan pada transistor, sehingga dapat diketahui tegangan transistor yang tidak normal. Komputer
sudah mempunyaidata besar tegangan yang seharusnya. Akan tetapi karena besaran ini merupakan
39
besaran yang analog sehingga nilainya tidak pasti pada angka tertentu, ada kemungkinan bervariasi antara
satu transistor dengan transistor yang lain, atau kartu satu dengan kartu yang lain. Analisis selanjutnya
diserahkan pada teknisi untuk mengadakan pemerikasaan lanjut dan perbaikan.
4. KESIMPULAN
Dari pengalaman kami selama mengadakan penelitian pembuatan prototipe komponen ini, dapat
disimpulkan bahwa : 1.
Sistem yang kuno, masih merupakan sistem yang terbuka sehingga mudah dipahami, mudah
dimodifikasi atau dibuatkan suku cadangnya. 2.
Sistem test bench bisa mempercepat waktu perbaikan kartu yang rusak dan memberi
kepastian kerja bagi teknisi yang mengerjakan. 3.
Dengan kemampuan ini diharapkan bisa memberi sumbangan bagi pemeliharaan sistem radar yang
ada, untuk bisa diberdayakan secara optiomal dengan karya dalam negeri.
UCAPAN TERIMA KASIH.
Pada kesempatan ini kami juga mengucapkan terima kasih kepada Direktorat Jendral Pendidikan
Tinggi yang telah memberi bantuan dana untuk mengadakan penelitian ini.
DAFTAR REFERENSI
[1]. Operation Manual untuk Radar Thomson, 1980 [2]. Phased Array Polarization Switches, Application
Note,EMS Tecknologi, Space and Technology- Atlanta. 2003
[3]. Sertac Yilmaz and Ibrahim Tekim, Ultra- Wideband N Bit Digitally Tunable Pulse Generator,
Sabanci University, Istambul. 2005
Gambar 9. Tampilan hasilPengujian Otomatis
Gambar 10. Tampilan Hasil Pengujian Input
40
